光谱法测碳硫元素

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光谱法测碳硫元素

         光谱法，有ICP法，用于定量分析金属中的碳量和硫量，近年来国内外不断有所报道。为了得到良好的放电气氛，用95%Ar和5%H2作为载气，预火花时间延长到40s，并使用强衰减放电方法，测样品中的硫量。金属样品置于钨与钼电极之间，在氧气气氛中，用电弧将金属中的碳转为CO和CO2，然后用发射发谱分析产生的气体混合物，检出限为0.001%。碳—铁—氧系统中的CO 、CO2、氧化铁等平衡浓度，是电弧温度的函数，可以计算出来。优化发射光谱的某些操作条件，可使其运用于分析金属中高含量和痕量元素的检测。例如，用发射光谱分析非合金钢和合金钢时，将预火花时间和积分时间优化成标准偏差的函数，可同时检测多元素，并且拓宽了检测范围。又如，利用研究出的一种超细粒子产生系统（UFP），借助火花电弧使样品中产生细粒子，并把细粒子加速到电感耦合发射光谱中，直接分析样品，使光谱法在分析金属碳、硫的应用中得到进一步发展

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